应用范围:反应样品表面三维形貌和局部物理特性,表征样品表面的高度差、粗糙度及粘弹性等。

成像模式:接触模式、动态模式、相位模式、水平力模式(LFM)、力调制模式

分辨率:水平 0.2 nm,垂直0.01nm

最大扫描范围:30μm×30μm×5μm 

样品要求:样品直径≤24 mm,表面高度差≤5 μm

Pages : 1 2

发表评论

邮箱地址不会被公开。 必填项已用*标注